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X射线以创纪录精度洞察微芯片“内心”

X射线以创纪录精度洞察微芯片“内心”

财联社8月9日电，瑞士保罗谢勒研究所、洛桑联邦理工学院、苏黎世联邦理工大学和美国南加州大学科学家合作，首次使用X射线，以4纳米超高精度观测了先进计算机微芯片的“内心”，创造了新的世界纪录。 ...

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